雙粒子束聚焦式離子束(DB-FIB)技術在材料檢測分析上之應用與發展
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A08006774
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 林明為(Lin， M. W.) 羅聖全(Lo， S. C.) 朱仁佑(Chu， J. Y.) 蔡枝松(Tsai， C. S.) 林麗娟(Lin， L. J.) 葉吉田(Yeh， J. T.)
- 主題與關鍵字：
- 雙粒子束聚焦式離子束 電子束 離子束 奈米碳管 鋰離子電池 穿透式電子顯微鏡試片製備 DB-FIB E-beam I-beam CNT Lithium ion battery TEM sample preparation
- 描述：
- 來源期刊:工業材料
- 卷期:252 2007.12[民96.12]
- 頁次:頁143-150
- 日期：
- 20071200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
