使用攜帶式X-ray螢光偵測儀監測微電子業維修作業環境中之砷暴露
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A07090008
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 黃耀輝(Hwang， Yaw-Huei) 朱萬澤(Chu， Wan-Tser) 石東生(Shih， Tung-Sheng) 蕭英德(Hsiao， Ying-Der) 陳正堯(Chen， Cheng-Yao)
- 主題與關鍵字：
- 砷 鎵 攜帶式X-ray螢光偵測儀 微電子產業 Arsenic Gallium PXRF Microelectronics industry
- 描述：
- 來源期刊:勞工安全衛生研究季刊
- 卷期:15:2 2007.06[民96.06]
- 頁次:頁116-129
- 日期：
- 20070600
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
