首頁
部落格
Facebook專頁
ENGLISH
珍藏特展
目錄導覽
技術體驗
成果網站資源
目錄導覽首頁
HOTKEY快速導覽
內容主題
典藏機構
進階搜尋
資源聯盟
首頁
目錄導覽
內容主題
新聞
國圖館藏期刊
首頁
目錄導覽
典藏機構與計畫
國家圖書館
國家圖書館期刊報紙典藏數位化計畫
Wafer Level MEMS Vertical Probe Card Design
推薦分享
資源連結
連結到原始資料
(您即將開啟新視窗離開本站)
後設資料
資料識別:
A07089428
資料類型:
期刊論文
著作者:
Lin, Jium-ming Tsai, Wen-jim
主題與關鍵字:
IC probe card Wafer level TDBI Low k elastomer
描述:
來源期刊:Tamkang Journal of Science and Engineering
卷期:10:2 2007.06[民96.06]
頁次:頁113-120
日期:
20070600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Lin, Jium-ming Tsai, Wen-jim(20070600)。[Wafer Level MEMS Vertical Probe Card Design]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/32/dc/56.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/32/dc/56.html
評分與驗證
請為這筆數位資源評分
請填入更適合的關鍵詞
推薦藏品
輸電電纜連接站避雷器接地引接方式標準...
基因醫學在臨床腫瘤學的應用
先秦至唐代「戲劇」與「戲曲小戲」劇目...
十六國時代趙對峙時期諸族殺掠與邑野蕭...
UVB輻射誘發老鼠角質層細胞株氧化壓...
佛國淨土與中國神話:莫高窟285窟的...