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On the Reverse Short-Channel Effect and Threshold Voltage Roll-Off Controls for 90 nm Node MOSFETs
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後設資料
資料識別:
A07082546
資料類型:
期刊論文
著作者:
Chen, Shuang-Yuan Tu, Chia-Hao Lin, Jung-Chun Chen, Ying-Tsung Zhuang, Sheng-Jun Huang, Heng-Sheng Liu, Chuan-Hsi Chou, Sam Ko, Joe
主題與關鍵字:
SCE RSCE LDD Pocket implant
描述:
來源期刊:中國工程學刊
卷期:30:5 2007.07[民96.07]
頁次:頁847-853
日期:
20070700
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Chen, Shuang-Yuan Tu, Chia-Hao Lin, Jung-Chun Chen, Ying-Tsung Zhuang, Sheng-Jun Huang, Heng-Sheng Liu, Chuan-Hsi Chou, Sam Ko, Joe(20070700)。[On the Reverse Short-Channel Effect and Threshold Voltage Roll-Off Controls for 90 nm Node MOSFETs]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/32/d4/5e.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/32/d4/5e.html
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