Design of Reliable CMOS Phase Locked Loops
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- 資料識別：
- A07078995
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- Wey， Chin-Long Huang， Chi-Shu
- 主題與關鍵字：
- Gate-oxide defects Phase-locked loops Stress test Extreme-voltage stress test Reliability enhancement
- 描述：
- 來源期刊:International Journal of Electrical Engineering
- 卷期:14:3 2007.06[民96.06]
- 頁次:頁195-206
- 日期：
- 20070600
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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