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平面基板非破壞性介電特性量測方法簡介(下)
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後設資料
資料識別:
A07078374
資料類型:
期刊論文
著作者:
傅坤福(Fuh, K. F.) 陳聰文(Chen, T. W.) 鄧文浩(Deng, W. H.) 羅新賢(Lo, H. H.)
主題與關鍵字:
材料測試治具 材料量測 介電常數 介電損耗 Material characterization fixture Material measurement Dielectric constant Loss tangent Tan δ
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:249 2007.09[民96.09]
頁次:頁184-188
日期:
20070900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
傅坤福(Fuh, K. F.) 陳聰文(Chen, T. W.) 鄧文浩(Deng, W. H.) 羅新賢(Lo, H. H.)(20070900)。[平面基板非破壞性介電特性量測方法簡介(下)]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/32/cd/ce.html(2017/03/25瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/32/cd/ce.html
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