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矽膜再結晶特性光學檢測系統建構與分析
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後設資料
資料識別:
A07066164
資料類型:
期刊論文
著作者:
郭啟全
主題與關鍵字:
矽膜再結晶 光學檢測系統 準分子雷射退火技術 低溫多晶矽 Excimer laser annealing ELA Low temperature polycrystalline silicon LTPS
描述:
來源期刊:電子月刊
卷期:13:6=143 2007.06[民96.06]
頁次:頁180-200
日期:
20070600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
郭啟全(20070600)。[矽膜再結晶特性光學檢測系統建構與分析]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/32/bd/3b.html(2024/09/15瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/32/bd/3b.html
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