符合國圖館藏期刊的藏品

勝開Tiny BGA 封裝--讓記憶體模組彩色化

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描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁54
資料識別：C03027183

833356/1161946

打造3G 大未來太克推出無線通訊分析儀

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描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁56
資料識別：C03027184

833357/1161946

是方電訊/微軟合作--打造兩岸三地AIP應用服務

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描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁58
資料識別：C03027185

833358/1161946

類比技術獨佔鰲頭 NS全力搶攻亞太市場

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描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁60-61
資料識別：C03027186

833359/1161946

10Gigabit 乙太網路逐漸提高應用價值

10Gigabit 乙太網路逐漸提高應用價值

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁121-122
資料識別：C03027187

833360/1161946

安全設備雙雄--聯華電子

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁123-126
資料識別：C03027188

833361/1161946

微波量測技術Hot S邖與Hot--K因素探討

微波量測技術Hot S邖與Hot--K因素探討

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁128-133
資料識別：C03027189

833362/1161946

如何簡化複雜的系統設計

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁134-139
資料識別：C03027190

833363/1161946

快速的LC 振盪器頻率穩定裝置

快速的LC 振盪器頻率穩定裝置

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁140-148
資料識別：C03027191

833364/1161946

用測量正偏二次崩潰參數的方法來驗證功率放大器件的可靠性

用測量正偏二次崩潰參數的方法來驗證功率放大器件的可靠...

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁149-153
資料識別：C03027192

833365/1161946

IEEE802.11 a/g的技術、製程與製造測試之挑戰

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描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁154-158
資料識別：C03027193

833366/1161946

類比與混合訊號晶片設計

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁159-162
資料識別：C03027194

833367/1161946

功率半導體元件技術動向

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁163-167
資料識別：C03027195

833368/1161946

DRAM 的電容特性

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁168-178
資料識別：C03027196

833369/1161946

ADSL數據機解決方案

描述：來源期刊:電子技術、卷期:203 民92.02、頁次:頁179-181
資料識別：C03027197

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