光化學濕式蝕刻法應用於氮化鎵晶片表面之研究

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資料識別:
A01021786
資料類型:
期刊論文
著作者:
洪榮木(Hong, R. M.) 林俊宏(Lin, C. H.) 陳世明(Chen, S. M.) 蔡文鋒(Tsai, W. F.)
主題與關鍵字:
氮化鎵 激光二極體 光化學濕式蝕刻 場效應掃瞄電子顯微鏡 蝕刻凹陷 蝕刻凹陷密度 GaN LED Photoelectro-chemical wet etching FESEM Etch-pit Etch-pit density EPD
描述:
來源期刊:永達學報
卷期:2:1 民90.04
頁次:頁1-7
日期:
20010400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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