A DfT Technique for Diagnosing Integrator Leakage of Single-Bit First-Order ∆∑ Modulator Using DC Input

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A10030152
資料類型:
期刊論文
著作者:
Huang, Xuan-lun Yang, Chen-yuan Huang, Jiun-lang
主題與關鍵字:
Analog/mixed-signal testing Diagnosis Design-for-test DfT ∆∑ modulation Integrator leakage
描述:
來源期刊:International Journal of Electrical Engineering
卷期:16:5 2009.10[民98.10]
頁次:頁411-419
日期:
20091000
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結