An Investigation of Strain Silicon Technology on Highly Strained, Highly Scaled NFET Devices

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資料識別:
A09072659
資料類型:
期刊論文
著作者:
Lu, Chih-cheng Lei, Tan-fu Hou, Alex Tuo-hung Chien, Chao-hsin Liao, M. H. Lee, T. L. Jang, S. M.
主題與關鍵字:
Strained silicon Effective mass Carrier mobility Drift-diffusion region Quasi-ballistic/ballistic transport
描述:
來源期刊:International Journal of Electrical Engineering
卷期:16:4 2009.08[民98.08]
頁次:頁289-294
日期:
20090800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

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管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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