Tuning Test Voltages and Frequencies of Test Program to Save Test Time of Flash Memories

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資料識別:
A09061077
資料類型:
期刊論文
著作者:
Chen, Shuang-yuan Chen, Hung-wen Tu, Chia-hao Ho, Shao-min Shie, Lie-chia Haung, Heng-sheng
主題與關鍵字:
Test time reduction TTR Flash memory Memory testing
描述:
來源期刊:Tamkang Journal of Science and Engineering
卷期:11:1 2008.03[民97.03]
頁次:頁1-5
日期:
20080300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

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管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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