新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A04030794
資料類型:
期刊論文
著作者:
羅聖全 江正誠 林智仁 陳淑貞 林麗娟 洪健龍
主題與關鍵字:
場發射穿透式電子顯微境 電子能量損失譜儀 高角度環狀偵測器 掃瞄影像觀測元件 數位掃瞄影像擷取系統 JEOL JEM-2100F FETEM EELS High-Angle Annular Detector Scanning image observation device Digiscan image acquisition system
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:213 民93.09
頁次:頁149-155
日期:
20040900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

金木水火土
十六國時代趙對峙時期諸族殺掠與邑野蕭...
鳳的傳人--論中國上古史的二元對立
物種生態誌(2)
南科345kV地下電纜線路之規劃設計...
「探索亞洲」佛教造像精品介紹--印度...