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多變量分析在半導體製程故障偵測之應用
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資料識別:
A02020120
資料類型:
期刊論文
著作者:
葉培青 張耀仁 李文猶
主題與關鍵字:
多變量分析 幅狀基底函數類神經網路 主成份分析 Multivariate analysis Radial basis function neural networks Principal component analysis
描述:
來源期刊:機械工業
卷期:234 民91.09
頁次:頁154-159
日期:
20020900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
葉培青 張耀仁 李文猶(20020900)。[多變量分析在半導體製程故障偵測之應用]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/49/96/56.html(2017/03/24瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/49/96/56.html
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