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積體電路產品之閂鎖效應測試方法
閂鎖效應 暫態觸發閂鎖效應 互補式金氧半導體 矽控整流器 Transient-induced latchup TLU 國家圖書館 20031000 期刊論文 柯明道 彭政傑 積體電路產品之閂鎖效應測.....more
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系統層級靜電放電測試 暫態觸發閂鎖效應 TLU 國家圖書館 20050600 期刊論文 許勝福 柯明道 系統層級靜電放電測試所引發之暫態觸發閂鎖效應 臺灣期刊論文索引系統 來源期刊:電子月刊 卷期.....more
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避免高壓積體電路發生閉鎖效應或...
ESD clamp circuit Latchup Transient latchup TLU 國家圖書館 20050500 期刊論文 林昆賢 柯明道 避免高壓積體電路發生閉鎖效應或類似閉鎖效應之電源.....more
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